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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：上海江蘇浙江介電常數(shù)測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-11

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供上海江蘇浙江介電常數(shù)測(cè)試儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們*進(jìn)*的經(jīng)營(yíng)理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

上海江蘇浙江介電常數(shù)測(cè)試儀

主機(jī)：TH2839/TH2838/TH2829等系列阻抗分析儀/LCR數(shù)字電橋

夾具：TH26077介電測(cè)試夾具

上位機(jī)軟件：介電分析軟件

材料如果在受到外部電場(chǎng)作用時(shí)能夠儲(chǔ)存電能，就稱為 "電介質(zhì)"。當(dāng)給平行板電容器施加直流電壓時(shí)，如果兩板之間存在介電材料，那么可以儲(chǔ)存比沒(méi)有介電材料 (真空) 時(shí)更多的電荷。介電材料可以通過(guò)中和電極上的電荷，使電容器儲(chǔ)存更多電荷，而通常情況下，這些電荷將流向外部電場(chǎng)。介電材料的電容與介電常數(shù)有關(guān)。當(dāng)在平行板電容器上并聯(lián)直流電壓源 v 時(shí) (圖 1)，兩板之間有介電材料的配置可以比沒(méi)有介電材料 (真空) 的配置儲(chǔ)存更多的電荷。

其中，C 和 C0 分別是有和沒(méi)有電介質(zhì)時(shí)的電容；k' = ε'r 是實(shí)際介電常數(shù)或介電常數(shù)，A 和 t 分別是電容器平板的面積和間距 (圖 1)。介電材料可以通過(guò)中和電極上的電荷，使電容器儲(chǔ)存更多電荷，而通常情況下，這些電荷將流向外部電場(chǎng)。根據(jù)上面的方程式可知，介電材料的電容與介電常數(shù)有關(guān)

如果在同一個(gè)電容器上并聯(lián)交流正弦電壓源 (圖 2)，得到的電流將包括充電電流 I_C 和與介電常數(shù)有關(guān)的損耗電流 I_I 。材料中的損耗可以用與電容器 (C) 并聯(lián)的電導(dǎo) (G) 表示。

復(fù)數(shù)介電常數(shù) ?? 由實(shí)部??^?? (表示儲(chǔ)存電荷) 和虛部??^???? (表示損耗電荷) 組成。

下面的符號(hào)可以互換表示復(fù)數(shù)介電常數(shù)

??=??^?=????=??^? ??  。

根據(jù)電磁理論，電位移 (電通量密度) ??_??的定義是:  

??_??=????

其中，??=??^?=??_0 ??_??是絕對(duì)介電常數(shù)， ??_??是相對(duì)介電常數(shù),??_0≈1/36??×10^(?9)是自由空間介電常數(shù)，E 是電場(chǎng)。

介電常數(shù)描述的是材料與電場(chǎng) E 的相互作用，是一個(gè)復(fù)數(shù)。

??=??/??_0 =??_??=??_?????〖??_??〗^"

      介電常數(shù) (k) 等于相對(duì)介電常數(shù) (??_?? )，或絕對(duì)介電常數(shù) ( ???)與自由空間介電常數(shù) (??_0) 之比。介電常數(shù)的實(shí)部 ( ??_r^′) 表示外部電場(chǎng)有多少電能儲(chǔ)存到材料中。介電常數(shù)的虛部 (??_??^" ) 稱為損耗因子，表示材料中有多少電能耗散到外部電場(chǎng)。介電常數(shù)的虛部 (??_??^" ) 始終大于 0，通常遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于 (??_r^′ )。損耗因子同時(shí)包括電介質(zhì)損耗和電導(dǎo)率的效應(yīng)。

      如果用簡(jiǎn)單的矢量圖 (圖 3) 表示復(fù)數(shù)介電常數(shù)，實(shí)部和虛部的相位將會(huì)相差 90°。其矢量和與實(shí)軸( ??_r^′ ) 形成夾角δ 。材料的相對(duì) "損耗" 等于損耗電量與儲(chǔ)存電量的比值。

損耗正切或 ????????定義為介電常數(shù)的虛部與實(shí)部之比。 D 表示耗散因子， Q 表示品質(zhì)因數(shù)。 損耗正切????????可以讀成tan delta、 損耗正切角或耗散因子。 有時(shí)， "品質(zhì)因數(shù)或Q因數(shù)" 也用來(lái)描述電子微波材料的特性， 等于損耗正切的倒數(shù)。 對(duì)于損耗非常低的材料，  ????????≈??， 所以損耗正切可以用角度單位毫弧度或微弧度來(lái)表示。

上海江蘇浙江介電常數(shù)測(cè)試儀，元器件參數(shù)測(cè)試儀TH2851精密阻抗分析儀 5個(gè)型號(hào)可選(10Hz-130MHz)應(yīng)用領(lǐng)域

無(wú)源元件：

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

半導(dǎo)體元件：

LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件：

印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

介質(zhì)材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

磁性材料：

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

半導(dǎo)體材料：

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào) TH2851-015 ，TH2851-030， TH2851-050， TH2851-080 ，TH2851-130

顯示 10.1英寸TFTLCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏

AC測(cè)量參數(shù) Cp/Cs、 Lp/Ls、 Rp/Rs、 |Z|、 |Y|、 R、 X、 G、 B、 θ 、 D、 Q、 VAC、 IAC

DC測(cè)量參數(shù) VDC、 IDC、 DCR

測(cè)試頻率

范圍 10Hz - 15MHz， 10Hz - 30MHz， 10Hz - 50MHz， 10Hz - 80MHz， 10Hz - 130MHz

最高分辨率 1mHz

頻率相對(duì)誤差 ≤± 0.0007%

測(cè)試電平

AC電壓 5mV - 2Vrms

分辨率 1mV

AC電流 50uA - 20mArms

分辨率 10uA

DC偏置

電壓 0V - ± 40V

電壓分辨率 1mV

電流 0mA - ± 100mA

電流分辨率 40μA

測(cè)試端配置 四端對(duì)

輸出阻抗 25Ω/100Ω

典型測(cè)量時(shí)間（速度）

五檔： 1(快速) - 5(精確)1:2.5ms 2:10ms 3:40ms 4:80ms 5:400ms（不包括通訊時(shí)間的算數(shù)平均值，每個(gè)頻率測(cè)試速度會(huì)略有不同）

最高準(zhǔn)確度

1kHz： 0.08%

1MHz： 0.08%

2MHz： 0.5%

10MHz： 1%

130MHz： 5.0%

測(cè)量顯示范圍 a 1×10-18； E 1×1018

Cs、 Cp ± 1.00000 aF - 999.999 EF

Ls、 Lp ± 1.00000 aH - 999.999 EH

D ± 0.00001 - 9.99999

Q ± 0.01 - 9999.99

R、 Rs、 Rp、 X、 Z ± 1.00000 aΩ - 999.999 EΩ

G、 B、 Y ± 1. 00000 aS - 999.999 ES

Vdc ± 1.00000 aV - 999.999 EV

Idc ± 1.00000 aA - 999.999 EA

θr ± 1.00000 a rad - 3.14159 rad

θd ± 0.0001 deg - 180.000 deg

Δ% ± 0.0001% - 999.999%

多功能參數(shù)列表掃描 1601點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選

掃描參數(shù)：測(cè)量參數(shù)、測(cè)試頻率、 AC電壓、 AC電流、 DC BIAS電壓、 DC BIAS電流

圖形掃描

參數(shù) 頻率、 ACV、 ACI、 DCV、 DCI

類型 對(duì)數(shù)、線性、頻率分段

點(diǎn)數(shù) 2-1601

通道數(shù) 4

曲線數(shù) 4條/通道

分屏顯示 16種（通道和曲線）

等效電路分析 3元件模型： 4個(gè)、 4元件模型： 3個(gè)

晶體振蕩器分析 有

曲線軌跡比對(duì) 有

分選 LCR模式10檔分選；掃描模式每條曲線單獨(dú)分選

接口 RS232C， USB HOST、 USB DEVICE、 LAN、 GPIB、 HANDLER、 VGA、 HDMI

開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間 60分鐘

輸入電壓 100-120VAC/198-242VAC可選擇， 47-63Hz

功耗 最大150VA

尺寸（WxHxD） mm3 428x220x325

重量 14.5kg

隨機(jī)附件：

TH26047A 四端測(cè)試夾具

TH26005D 四端測(cè)試夾具

TH26082A 100Ω 標(biāo)準(zhǔn)件

TH26010 鍍金短路板

TH26061D_P1 校準(zhǔn)套件

AR05TTS1000N 貼片電阻

選配件：

TH26007A 磁環(huán)測(cè)試夾具

TH26008A SMD元件測(cè)試夾具

TH26009B SMD元件測(cè)試鉗

TH26048 四端測(cè)試夾具

TH26062A 四端測(cè)試夾具

TH26063 四端測(cè)試夾具

TH26108C 四端對(duì)貼片測(cè)試夾具

TH26077 電介質(zhì)測(cè)試夾具

體積（mm）： 428 (W)×220(H)×325(D)

凈重： 14.5kg

TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。

TH2851系列阻抗分析儀摒棄了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

簡(jiǎn)要介紹

測(cè)試頻率： 10Hz-130MHz

高精度：采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，四端對(duì)測(cè)試配置

高穩(wěn)定性和一致性

高速度：最快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度

高分辨： 10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800

點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測(cè)試方式

1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能

四參數(shù)測(cè)量

自動(dòng)電平控制（ALC）功能

4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有14種分屏顯示方式

強(qiáng)大的分選： LCR模式10檔分選

圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選，頻率分段掃描并分選

高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、 E4980AL、 HP4284A

RS232

HANDLER HMDI

GPIB

USB HOST

VGA

LAN

USB DEVICE

SCPI

TH2851系列阻抗分析儀包括以下幾種類型：

TH2851- 015

TH2851- 030

TH2851- 050

TH2851- 080

TH2851- 130

測(cè)試頻率

10Hz-15MHz

10Hz-30MHz

10Hz-50MHz

10Hz-80MHz

10Hz-130MHz

基本精度 0.08%

AC信號(hào)源

電壓 5mVrms - 2Vrms

電流 200uA - 20mArms

DC偏置

電壓 0V - ±40V

電流 0mA - ±100mA

A.高精度

寬帶自動(dòng)調(diào)零型自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、 1mΩ-100MΩ的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的測(cè)量精度，其中最高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線，由下圖可見(jiàn)其軌跡噪聲≦ 0.003%（≦± 0.0015Ω ）

B.高穩(wěn)定性和高一致性 

C.高速度

D.10.1寸大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺 

E.增強(qiáng)的列表掃描功能

F.強(qiáng)大的分析圖形界面

G.分段掃描功能

最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。

分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過(guò)分段掃描共呢個(gè)可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無(wú)需掃描不相關(guān)頻率

單通道四曲線顯示

雙通道雙曲線顯示

單通道單曲線

四通道四曲線

10.1寸觸摸屏、 1280*800分辨率， Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、 LAN、 VGA/HDMI接口，帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來(lái)更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

G.強(qiáng)大的圖形分析功能

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值）

2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系 X 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系 Y 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)：

最大值、最小值

峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

目標(biāo)值： 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

1） 曲線分選功能

可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

2） 等效電路分析測(cè)試

現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

3） 晶體振蕩器分析

對(duì)壓電陶瓷等晶體進(jìn)行測(cè)量以及性能分析，測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

F.標(biāo)配附件

F.選配附件

TH26007A磁環(huán)測(cè)試夾具 

TH26108C四端對(duì)貼片測(cè)試夾具

TH26063四端測(cè)試夾具

TH26047A四端測(cè)試夾具 

TH26082A 100Ω標(biāo)準(zhǔn)件 

TH26010 鍍金短路板

TH26061D_P1 校準(zhǔn)套件

AR05TTS1000N 貼片電阻

TH26005D四端測(cè)試夾具

TH26008ASMD 元件測(cè)試夾具 

TH26009B SMD元件測(cè)試鉗 

TH26062A四端測(cè)試夾具

TH26048四端測(cè)試夾具 

TH26077電介質(zhì)測(cè)試夾具

·工作頻率： DC-40 MHz

·最大偏置： ± 42 V

·應(yīng)用： SMD器件，尤其高頻小電容≤3pF或小電感≤1µH，測(cè)試頻率≥100kHz,且對(duì)D和Q要求高的器件

·工作頻率： DC-120MHz

·最大直流偏置: ± 42V

·應(yīng)用：小型磁環(huán)單匝電感量測(cè)試，尺寸大小可定制

·工作頻率: DC-100kHz

·最大直流偏置： ± 42V

·應(yīng)用：測(cè)試螺栓電容器，DC_LINK電容

·工作頻率： DC-120 MHz

·最大直流偏置: ± 42 V

·應(yīng)用：用于導(dǎo)線類器件的阻抗測(cè)試，帶屏蔽接地端

·工作頻率： DC-120 MHz

·最大直流偏置: ± 42 V

·工作頻率： DC-120MHz

·最大直流偏置: ± 42V

·應(yīng)用： SMD 器件，尤其高頻小電容≤3pF或小電感≤1µH。測(cè)試 頻率≥100kHz

·工作頻率： DC-15 MHz

·最大直流偏置： ± 42V

·應(yīng)用： 用于各種 SMD 器件測(cè)試

·工作頻率: DC-100kHz

·最大直流偏置： ± 42V

·應(yīng)用：測(cè)試電動(dòng)汽車用薄膜大容

量DC_LINK電容

·工作頻率： DC-120 MHz

·DUT尺寸： 10mm – 56mm

·DUT厚度： ≤10mm

·應(yīng)用：固體材料的介電分析

·工作頻率： DC-13 MHz

·最大直流偏置： ± 42 V

·應(yīng)用：用于各種直插式軸向和徑向阻抗器件

4） 曲線軌跡對(duì)比

曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：

a) 針對(duì)多種不同被測(cè)件

對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值